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pg电子最新网站入口S300B-半导体器件iv特性参数测试SMU源表

发布日期:2024-08-05 20:17 浏览次数:

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  半导体分立器件是组成集成电路的基础,包含大量的双端口或三端口器件,如二极管,晶体管,场效应管等。 直流 I-V 测试则是表征微电子器件、工艺及材料特性的基石。通常使用 I-V 特性分析,或 I-V 曲线,来决定器件的基本参数。微电子器件种类繁多,引脚数量和待测参数各不相同,除此以外,新材料和新器件对测试设备提出了更高的要求,要求测试设备具备更高的低电流测试能力,且能够支持各种功率范围的器件。分立器件 I-V 特性测试的主要目的是通过实验,帮助工程师提取半导体器件的基本 I-V 特性参数,并在整个工艺流程结束后评估器件的优劣。

  数字源表作为电学测量的常用仪器,在高校和研究所的相关实验室内几乎都能看到,源表集多表合一、配上专业软件即可实现各种定制测量,使用非常广泛。

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  分立器件特性测试:电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFETpg电子网址pg电子网址、SiC、GaN等器件;能量与效率特性测试:LED/AMOLED、太阳能、电池、DC/DC转换器;传感器特性测试:电阻率、霍尔效应等;有机材料特性测试:电子墨水、印刷电子技术等;纳米材料特性测试:石墨烯、纳米线等;激光器特性测试:窄脉冲LIV测试系统;功率器件:静态测试系统;电流传感器:动静态参数测试系统;

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  武汉普赛斯是国内蕞早生产源表的厂家,产品系列丰富:产品覆盖不同的电压、电流范围,产已经过了市场的考验、市面有近500台源表在使用;

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