pg电子官网胜达克半导体（上海）取得SOC芯片并行测试切换方法专利通过时钟域切换

　　pg电子官网胜达克半导体（上海）取得SOC芯片并行测试切换方法专利通过时钟域切换电路切换到模拟时钟域可以让两个端口在不同频率下同时启动逻辑测试金融界2024年9月8日消息，天眼查知识产权信息显示，胜达克半导体科技（上海）股份有限公司取得一项名为“一种应用于自动测试机的 SOC 芯片并行测试切换方法“，授权公告号 CN112924850Bpg电子最新网站入口，申请日期为 2021 年 1 月。

　　专利摘要显示，本发明涉及半导体测试技术领域，具体地说是一种应用于自动测试机 SOC 芯片并行测试切换方法。具体流程如下：S1：在测试载具板上的数据接口及 MCU 端连接一组数字测试通道 A，在测试载具板上的以太网接口端连接一组数字测试通道 B，数字测试通道 B 上连接时钟域切换电路；S2：设置系统时钟周期为 250MHz；设置模拟时钟周期为 240 MHz；S3：测试时，利用数字测试通道组 A 对被测 SOC 芯片完成微处理器 MCU 的功能测试；利用数字测试通道组 B 对被测 SOC 芯片完成以太网内核的功能测试；S4：测试完成后pg电子最新网站入口，判断是否通过，是则被测 SOC 芯片认定合格；否则被测 SOC 芯片认定不合格。同现有技术相比pg电子最新网站入口，通过时钟域切换电路切换到模拟时钟域，可以让两个端口在不同频率下同时启动逻辑测试。